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ICT检测设备器开发理论

行业新闻|2021-12-10|admin

  写这篇论文的目的不是别的,而是资源共享。希望国内的有志之士也能研制出世界一流的ICT检测设备。让我们看看他们ICT检测设备的技术组件在哪里。我们可以开发每台成本约500万美元的信通技术ICT检测设备。


  ICT检测设备,即在电路测试、电路板内部电路测试中,这类设备是为了快速检查电路板的缺陷。用于大规模生产的设备。


  我们使用的ICT检测设备的功能无非就是这些:1。接触测试,即开路测试。


  2.短路试验,即短路试验。


  3.OX/JX测试。即连接器测试(也可以测量BGA和IC是否无焊料。


  4.组件测试,即组件测试。元器件测试分为电阻测试、电容测试和电感测试。


  5.上电测试,即测试IC部分。为了燃烧。


  这五种功能的设备每台价值500万美元,前四种功能的测试仪器每台也能卖到100万(据我所知有几台测试仪器)。看看他们的测试原理。


  接触试验


  开路测试,给指定的测试点一定的电压,在另一个指定点测量电压。如果电压小于给定值,说明这一点有问题。这种电路不难吧?网上有很多经典的硬件电路。


  短期测试


  短路测试是测试两点之间的电阻。该理论与电阻测试相同,下面将详细描述。


  OX/JX测试


  上部传感器芯片和下部针尖发出交流信号。传感器芯片感应到的信号在一定范围内,超出范围则判断有问题。


  部件试验


  元件测试更简单,电感可以按零电阻计算(所有测试仪器都这样做)。在元件的一端施加电流,在另一端测试电压(简单,如果你想要硬件电路图,我这里有,精确到0.03%,13642869852 email  : lof  _ lripa  @ 163 . com)。


  另外,并联电阻的测试也很巧妙。它利用运算放大器的虚连接和等电压特性。测试方法如下:


  电阻R2两端的电压相等,电流为0。因此,被测电阻R1的电流为I作为给定电流,这样就可以测出电压V,R1值为R=V/I


  用运算放大器测试。从“A”点来看“虚拟土地”的概念是:* Ix=Iref  # f  h  . d  . y/v  . e  . j


  rx=vs/v0 * rref  * f  ' n-o7 l  r5 v0 n1 e9 x;m


  Vs和Rref分别是激励信号源和仪表计算电阻。测量V0,然后可以找到Rx。8 e  A0 G6 y9 A(N;M* g


  如果待测Rx是电容或电感,那么Vs交流信号源,Rx是阻抗形式,也可以得到C或L。1 _,\ Q  F- q' c


  !]' @4 L' Q: D0 N!I1 W  |


  通电测试,即通电测试


  上电测试是测量IC的功能,比如逻辑器件,只测量真值表。测试集成电路功能是否有问题。还有所谓的边界扫描测试,也就是边界扫描。给IC的管脚一个定时,检测其他管脚上的信号是一种测试,这是测试IC的一个连接问题。据说这是一种先进的测试方法。


  测试原理已经完成,这些原理是基本数字模拟信号的应用。如果你想知道具体的参数,请联系我。另外,我可以简单讲一下我开发的测试设备的硬件结构:


  主要有两种硬件结构:1。功能板。2.寻址板(寻址意味着找到指定的针尖)可以通过以下方式使用:


  功能板用于连接计算机,产生和测量电流和电压信号,控制寻址板,可由现场可编程门阵列控制。通过将寻址板所连接的引脚位置与产生的信号相连接,可以控制待测试板的每个组件。寻址板也可以使用FPGA找到指定的管脚点。如果有太多128或256针点,将使用继电器。


  以上是对一个ICT检测设备的原理和结构的一些描述,供有志之士参考。如果有错请指正。

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